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商品編碼 | 商品名稱 |
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9031410000 | 高低溫溫度控制測試機 |
9031410000 | 顆粒測試儀(舊)/檢測硅片表面顆粒情況 |
9031410000 | 顆粒度測試儀 |
9031410000 | 靜電卡盤 |
9031410000 | 集成電路測試器,可測得集成電路是否短路或斷路,NIDEC-READ |
9031410000 | 集成電路注入劑量檢測設備(舊)/監(jiān)控注入機臺穩(wěn)定性 |
9031410000 | 集成電路專用表面缺陷檢測儀(光學檢測) |
9031410000 | 降塵試驗箱 |
9031410000 | 陽光模擬器(太陽能組件IV測試) |
9031410000 | 間隙量測設備 |
9031410000 | 錫膏檢測儀 |
9031410000 | 錫膏檢查機(舊) |
9031410000 | 金線拉力測試儀 |
9031410000 | 量子效率測試儀(舊) |
9031410000 | 輪廓儀;測試物體表面的輪廓;測試表面顆粒高度及顆粒之間的間距;SENSOFAR-TECH,S.L. |
9031410000 | 超聲波斷層掃描儀 |
9031410000 | 超聲波影像檢查儀 |
9031410000 | 視覺測試儀 |
9031410000 | 表面缺陷檢測設備 |
9031410000 | 薄膜厚度測試系統(tǒng) |
9031410000 | 蒸汽老化機 |
9031410000 | 熒光顯示屏陣列 |
9031410000 | 熒光顯示屏柵網 |
9031410000 | 芯片檢測機 |
9031410000 | 芯片檢查機WS896-AA |
9031410000 | 芯片檢查機FT1000-D |
9031410000 | 芯片分類機MS109-10-D4 |
9031410000 | 芯片分類機MS109-10-A1 |
9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-3-A1 |
9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-20-B2 |
9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-2-A1 |
9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-10-D2 |
9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-1-A1 |
9031410000 | 芯片分類機MS100Plus II-A1 |
9031410000 | 芯片分類機MS100Plus II-10-A2 |
9031410000 | 芯片分類機ES201-10-A1 |
9031410000 | 芯片分類機ES101-10-A1 |
9031410000 | 自動薄膜應力測量儀(舊)/測試晶圓表面薄厚應力 |
9031410000 | 自動芯片檢驗機,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用機器內置數(shù)字攝像機,拍攝得出WAFER表面圖片,用機內電腦與系統(tǒng)預設之標準圖片自行分析比對,判斷WAFER上是否有外形缺陷.同時設備內置光柵尺,利用傳感器讀取光柵尺位置信息,從而得出錫銀球所需量測尺寸. |
9031410000 | 自動晶粒分類挑揀機(舊) |
9031410000 | 自動晶圓測試機/Prober |
9031410000 | 自動外觀檢查裝置 |
9031410000 | 自動光學晶圓檢驗機;Camtek;IT行業(yè),測量晶圓的劃傷、裂痕等表面狀態(tài) |
9031410000 | 膜厚測量儀S3000SX |
9031410000 | 膜厚測試儀(舊)/測量晶圓表面膜厚 |
9031410000 | 膜厚測試儀(舊)/測量晶圓表面膠膜膜厚 |
9031410000 | 膜厚測試儀 |
9031410000 | 缺陷測試設備 |
9031410000 | 編碼器光柵 |
9031410000 | 終端機卡接口測試儀 |
9031410000 | 終點檢測系統(tǒng)/型號:SP2100 |
9031410000 | 終點檢測系統(tǒng) |
9031410000 | 紅外回流掃描儀,品牌SONIX,檢查集成電器元器件內部是否有分層,功能:非破壞性檢驗 |
9031410000 | 穩(wěn)定度測試儀(舊) |
9031410000 | 移動終端智能卡接口單線協(xié)議測試儀 |
9031410000 | 科磊表面掃描儀(舊) |
9031410000 | 離線EL測試儀 |
9031410000 | 硅片顆粒掃描儀(舊) |
9031410000 | 硅片顆粒分析儀(舊) |
9031410000 | 硅片表面缺陷檢查儀(舊) |
9031410000 | 硅片表面缺陷光學檢查儀(舊) |
9031410000 | 硅片膜厚測試儀(舊) |
9031410000 | 硅片厚度測試儀 |
9031410000 | 硅片幾何參數(shù)測試儀 |
9031410000 | 硅晶片檢測儀 |
9031410000 | 電路板半導體器件光學檢測儀 |
9031410000 | 電子產品用檢查設備 |
9031410000 | 激光型橢偏儀 |
9031410000 | 激光器芯片老化測試裝置用測試箱 |
9031410000 | 激光器芯片老化測試裝置(八成新) |
9031410000 | 激光器芯片窄脈沖測試儀 |
9031410000 | 測試機(舊),用于測試集成電路,CREDENCE牌,采用微電子原理,測試集成電路好壞,集成電路,型號:QUARTET ONE,技術參數(shù):220V等,有測試結果顯示,顯示集成電路好壞指標 |
9031410000 | 測試機(舊),用于測試集成電路,AGILENT牌,采用微電子原理,測試集成電路好壞,集成電路,型號:E6978B,技術參數(shù):220V等,有測試結果顯示,顯示集成電路好壞指標 |
9031410000 | 測試機(修理費) |
9031410000 | 測試儀 |
9031410000 | 泵浦激光器老化測試裝置用卡條 |
9031410000 | 水平儀 |
9031410000 | 模組電致發(fā)光檢查設備 |
9031410000 | 檢測芯片光功率用檢測儀 |
9031410000 | 檢測器框架 |
9031410000 | 檢測器 |
9031410000 | 檢測儀 |
9031410000 | 極間距測量裝置 |
9031410000 | 晶片角度測量儀,用于半導體薄膜厚度測量系統(tǒng),品牌NANO |
9031410000 | 晶片厚度測試儀(舊) |
9031410000 | 晶格圖像檢測機 |
9031410000 | 晶圓顆粒檢測儀(舊) |
9031410000 | 晶圓表面金屬膜厚度檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓表面金屬污染檢測儀 |
9031410000 | 晶圓表面膜層檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓表面膜厚檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓表面膜厚檢測儀(舊,光學檢測) |
9031410000 | 晶圓表面膜厚和離子濃度檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓表面缺陷檢測裝置(舊,光學檢測) |
9031410000 | 晶圓表面缺陷檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓表面圖形區(qū)對中檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓缺陷檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓缺陷檢測機 |
9031410000 | 晶圓縮微檢查顯微鏡(舊) |
9031410000 | 晶圓縮微檢查顯微鏡(舊,2003年產) |
9031410000 | 晶圓離子注入監(jiān)視檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓校準裝置 |
9031410000 | 晶圓截面檢測裝置 |
9031410000 | 晶圓外觀目檢挑除機(舊) |
9031410000 | 晶圓外觀檢測挑除機(舊) |
9031410000 | 晶圓厚度綜合測試儀 |
9031410000 | 晶體阻抗計 |
9031410000 | 晶體測試機 |
9031410000 | 舊芯片翹曲度測試儀/七成新 |
9031410000 | 舊芯片微粒測試儀/七成新 |
9031410000 | 舊離子測試儀/七成新 |
9031410000 | 舊硅片膜厚測試儀/七成新 |
9031410000 | 舊硅片濃度測試儀/七成新 |
9031410000 | 舊硅片厚膜測試儀/七成新 |
9031410000 | 舊校平測試儀/七成新 |
9031410000 | 舊微粒測試儀/六成新 |
9031410000 | 舊帆宣自動光學缺陷分類機 |
9031410000 | 舊半導體器件用測試機修理費 |
9031410000 | 舊半導體器件用測試機 |
9031410000 | 舊BUMP測試儀/七成新 |
9031410000 | 斜角/凸面晶片3-D形狀分析系統(tǒng) |
9031410000 | 接觸式表面平整度檢測裝置 |
9031410000 | 探針測試儀(舊) |
9031410000 | 探針臺/無品牌 |
9031410000 | 投影量測儀 |
9031410000 | 打孔檢查機/用于檢查線路板打孔 |
9031410000 | 快速檢測儀(檢測半導體器件) |
9031410000 | 微顆粒光學檢測儀 |
9031410000 | 平整度測試儀 |
9031410000 | 島津紅外半導體檢測儀 |
9031410000 | 少子壽命測試儀(舊) |
9031410000 | 套刻精度測試機 |
9031410000 | 套準量測儀(舊) |
9031410000 | 太陽能組件測試儀BXM-2012SA |
9031410000 | 太陽能組件測試儀 |
9031410000 | 太陽能電池顏色分類系統(tǒng) |
9031410000 | 太陽能電池片表面瑕疵檢測儀(舊) |
9031410000 | 太陽能電池片測試儀 |
9031410000 | 太陽能電池效能測試儀/舊 |
9031410000 | 太陽能電池QE/IPCE測試系統(tǒng) |
9031410000 | 太陽光模擬器 |
9031410000 | 多晶硅電池片分色檢驗儀 |
9031410000 | 多功能晶片檢測系統(tǒng) |
9031410000 | 外觀檢測系統(tǒng)-檢測晶體管外觀 |
9031410000 | 外觀檢查機/用于檢查線路板成品 |
9031410000 | 在線光學檢查儀 |
9031410000 | 噪音測試儀 |
9031410000 | 可焊性測試機 |
9031410000 | 疊層對準檢測裝置 |
9031410000 | 疊對量測儀(舊,光學檢測) |
9031410000 | 變焦光學系統(tǒng) |
9031410000 | 厚度量測儀 |
9031410000 | 半自動裸晶測試機 |
9031410000 | 半導體顆粒測試儀(舊) |
9031410000 | 半導體設備用函數(shù)發(fā)生器 |
9031410000 | 半導體膜厚測量儀(舊) |
9031410000 | 半導體硅片檢查儀(舊) |
9031410000 | 半導體硅片檢查儀(舊) |
9031410000 | 半導體硅片檢查儀 |
9031410000 | 半導體用缺陷檢查儀/舊 |
9031410000 | 半導體用微波檢測儀 |
9031410000 | 半導體測試機組件 |
9031410000 | 半導體測試機(舊) |
9031410000 | 半導體檢測設備 |
9031410000 | 半導體檢測儀(舊) |
9031410000 | 半導體檢查裝置 |
9031410000 | 半導體晶片光學檢測儀(舊) |
9031410000 | 半導體晶圓檢測儀器(舊) |
9031410000 | 半導體晶圓檢查測量機(舊) |
9031410000 | 半導體晶圓檢查測量機(舊) |
9031410000 | 半導體晶圓檢查測量機 (舊) |
9031410000 | 半導體晶圓檢查測量機 (舊) |
9031410000 | 半導體器件測試機, |
9031410000 | 半導體器件檢測儀 |
9031410000 | 半導體器件器具 |
9031410000 | 半導體器件功率循環(huán)測試機 |
9031410000 | 半導體加工測試機 |
9031410000 | 半導體加工測試儀 |
9031410000 | 制造半導體器件的檢測器具 |
9031410000 | 制造半導體器件的檢測儀和器具 |
9031410000 | 制造半導體器件的檢測儀 |
9031410000 | 全自動高溫晶圓應力檢測裝置 |
9031410000 | 全自動表貼LED分類系統(tǒng)/SLS200C |
9031410000 | 全自動芯片掃描檢查系統(tǒng) |
9031410000 | 全自動檢測機 |
9031410000 | 全自動晶粒挑揀機 |
9031410000 | 全自動外觀檢查機 |
9031410000 | 全尺寸光伏組件電致發(fā)光成像儀[舊] |
9031410000 | 光致發(fā)光硅片測試儀 |
9031410000 | 光致發(fā)光測試儀 |
9031410000 | 光罩表面缺陷檢測裝置 |
9031410000 | 光罩缺陷檢測機(舊,光學檢測) |
9031410000 | 光電開關用檢測器具 |
9031410000 | 光柵尺 |
9031410000 | 光柵 |
9031410000 | 光掩膜版位置精度測量機 |
9031410000 | 光學表面形貌測量儀 |
9031410000 | 光學測試治具 |
9031410000 | 光學宏觀缺陷掃描儀主機F30 |
9031410000 | 光學厚度量測儀 |
9031410000 | 亮度測試機(維修費) |
9031410000 | 亮度測試機 |
9031410000 | 三維管腳檢測儀(舊) |
9031410000 | 三極管測試機 |
9031410000 | 三光檢查系統(tǒng) |
9031410000 | VITROX外觀檢測系統(tǒng)VT-LP2000T |
9031410000 | TOPAS全處理過程分析系統(tǒng)/針對各元器件及發(fā)光二極管 |
9031410000 | PSS測試系統(tǒng) |
9031410000 | PCB測試設備 |
9031410000 | LW1000自動耦光系統(tǒng) |
9031410000 | LED測試機 |
9031410000 | LED全自動高速測速機 |
9031410000 | LED全自動高速測試機/舊 |
9031410000 | LED全自動高速測試機 |
9031410000 | LED亮度測試機(維修費) |
9031410000 | LD測試裝置 |
9031410000 | KEYENCE晶體管外觀檢測系統(tǒng) |
9031410000 | DVD光學頭評價機/PULSTEC |
9031410000 | DVD光學頭參數(shù)測量調整儀/PULSTE |
9031410000 | DVD光學頭參數(shù)測量調整儀 |
9031410000 | CCD攝像機(光學檢測模組) |
9031410000 | CCD影像機(光學檢測模組) |
9031410000 | 3D光學輪廓儀 |
9031410000 | 2A級太陽光模擬器及I-V測試系統(tǒng) |